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  • AT2617电容测试仪

    型号:AT2617

    品牌:安柏

    简介:AT261X系列是电容测试仪采用高性能32位ARM微处理器控制的全自动实时检测的微型台式仪器

  • 特征

    • 真彩TFT-LCD显示。

    • 储存999个LCD画面档案,触发延迟

    • 校正功能:全量程程开路和短路扫频清零

    • 校准功能

    • 比较器功能(分选功能)

    • 文件功能:仪器内部Flash存储器有10个文件可供您用来保存仪器数据,

    • 可编程1~256次平均次数,提供稳定性。

    • 自定义分选结果讯响。

    • 内置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口,可选GPIB接口。

    • SCPI和Modbus 通信协议。

    规格

    测量参数Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
    基本准确度0.1%
    测试频率100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
    测试量程自动、手动和标称量程,9量程
    测试速度30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
    显示范围C: 0.0001pF – 9.9999mF
    R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ
    D, 0.0001 – 9.9999
    Q: 0.0001 – 9999.9
    Δ%: -999.999% - 999.999%
    输出阻抗30Ω,100Ω
    监视参数Z, R, Δ, Δ%
    读数99999
    等效方式串联和并联等效
    信号电平ACV:10.00mV~2.00V,准确度:10%,CV模式准确度:6%
    平均次数1~256
    触发方式内部、手动、外部和远程
    触发延时0.01ms~60s
    比较器合格档(BIN1-BIN3):表示主副参数均合格;
    附属档(AUX):表示附属档打开时,主参数合格但副参数不合格;
    不合格档(OUT):主参数不合格,或者,附属档关闭时主参数合格但副参数不合格。
    HI/IN/LO:主参数更详细的比较结果,HI:主参数偏高,LO:主参数偏低,IN:主参数合格
    比较方式顺序/偏差/相对偏差
    校准开路清零、短路清零(扫频和点频)
    文件内部存储10个文件
    外部USB存储10个文件
    数据记录9999 组文件(.csv)
    讯响功能关/合格/不合格
    接口处理机(Handler)接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口(选件)
    通讯协议SCPI/Modbus
    电源要求90V-260VAC,50Hz至60Hz
    尺寸与重量264(宽)x107(高)x349.5 (深)
    3kg,净重


    电话:19925366196
    手机:19925366196    
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